›› 2002, Vol. 2 ›› Issue (4): 0-0.
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王栋,万立骏,王琛,白春礼
LIU Teng-fei, DENG Ren-sheng, WEI Fei, JIN Yong
摘要: 简要介绍了扫描探针显微术(Scanning Probe Microscopy, SPM)在纳米科学中的应用、研究现状及其发展趋势,特别介绍了电化学扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)在此研究领域的重要作用以及所获成果等. 内容涉及STM技术的工作原理及特点、纳米结构的研究和表征、纳米结构的构筑及分子电子学器件的研究等.
中图分类号: