摘要: 为了达到对粉体的精确分级,以满足制备粉体过程中越来越严格的粒度控制要求,采用静电分级的方法,即给颗粒带上静电,并使其在静电场中根据颗粒带电的不同而分级,并以此方法为基础研制了一种静电分级设备. 实验测得粒径在75 mm以下的铜粉的荷质比极大值为-14.8 nC/g,W10, W20, W40 SiC(粒径分别为10, 20, 40 mm)粉体的荷质比的极大值分别为-90.6, -43.2, -50.7 nC/g. 可以明显看出铜粉的分级效果. 碳化硅粉体II细粉大于25 mm的累积质量分数从原料的3.77%下降到细粉的2.39%,碳化硅粉体III细粉大于25 mm的累积质量分数从原料的1.80%下降到细粉的0.93%. 结果表明,静电分级是一种具有发展前景的分级方法.